详细摘要: 型号:JX2008产品概述:JX2008电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太...
产品型号:所在地:更新时间:2024-01-20 在线留言合肥科晶材料技术有限公司
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